在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()
A、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大
B、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大
C、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小
D、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小
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在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()
A、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大
B、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大
C、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小
D、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小